Prueba de Continuidad
La prueba de continuidad consta de una prueba de circuito abierto/cortocircuito y una prueba de cortocircuito en el pin de alimentación. La primera verifica los pines de señal, mientras que la segunda verifica el pin de alimentación.
Prueba de Continuidad de Circuito Abierto/Cortocircuito
La prueba de continuidad de circuito abierto/cortocircuito tiene como objetivo confirmar el contacto eléctrico entre el probador y el dispositivo bajo prueba (DUT, por sus siglas en inglés) y verificar si existe un cortocircuito con otros pines o con tierra.
Método de Prueba
La prueba de continuidad de circuito abierto/cortocircuito se realiza mediante la prueba de los diodos de protección (diodos hacia VDD y hacia GND). Generalmente, se utiliza el código PPMU con VBT (también se puede probar utilizando PE y un patrón funcional).
Prueba a través del diodo de protección a tierra
- Aplicar 0V a todos los pines que no se están probando (incluido el pin de alimentación).
- Aplicar una pequeña corriente negativa (-100uA) en el Pin Bajo Prueba (con limitación de voltaje).
- Medir el voltaje en el Pin Bajo Prueba:
- Mayor que la especificación máxima (> -0.2V): FALLA (Cortocircuito)
- En el rango medio (-1.5V ~ -0.2V): APROBADO
- Menor que la especificación mínima (< -1.5V): FALLA (Circuito Abierto)
Prueba a través del diodo de protección a VDD
- Aplicar 0V a todos los pines que no se están probando (incluido el pin de alimentación).
- Aplicar una pequeña corriente positiva (+100uA) en el Pin Bajo Prueba (con limitación de voltaje).
- Medir el voltaje en el Pin Bajo Prueba:
- Mayor que la especificación máxima (> 1.5V): FALLA (Cortocircuito)
- En el rango medio (0.2V ~ 1.5V): APROBADO
- Menor que la especificación mínima (< 0.2V): FALLA (Circuito Abierto)
Prueba de Cortocircuito en el Pin de Alimentación
La prueba de cortocircuito en el pin de alimentación tiene como objetivo verificar si hay un cortocircuito entre el pin de VDD y el pin de GND, lo cual podría causar daños al DUT o al probador. La prueba de cortocircuito en el pin de alimentación siempre se realiza inmediatamente después de la prueba de continuidad de circuito abierto/cortocircuito. Si esta prueba falla, se apagará la alimentación del dispositivo y se rechazará el DUT.
Método de Prueba
El Test de Cortocircuito en el Pin de Alimentación se realiza aplicando un pequeño voltaje a VDD y midiendo la corriente que entra en él para comprobar si existe un cortocircuito. Normalmente se utiliza DCVI con el código VBT.
- Aplicar un pequeño voltaje a VDD (100mV) (con una pinza de corriente).
- Forzar que todos los demás pines estén a 0V con PPMU.
- Medir la corriente que fluye en el pin VDD:
- Superior al límite máximo (>20uA): FALLA (Cortocircuito)
- En el rango intermedio (-1uA~20uA): APROBADO
- Inferior al límite mínimo (<-1uA): FALLA
Referencias y Agradecimientos
- Los Fundamentos de la Prueba de Semiconductores Digitales
- Fundamentos de Pruebas Utilizando ATE
Original: https://wiki-power.com/
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